X-射线衍射仪低温装置
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种用于X-射线、光谱等测量物质结构低温相变的X-射线衍射仪低温装置。它节省了在测量调整过程的时间、简化了操作步骤；本装置的制作成本低廉、操作调极为简单；且省工、省时、省液氮，衍射强度大、背底干扰小。此装置可以用于国内外生产的各种X-射线衍射仪上。
基本信息
专利标题 ：
X-射线衍射仪低温装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89200763.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-01-16
授权号 ：
CN2045852U
授权日 ：
1989-10-11
发明人 ：
高忠民
申请人 ：
吉林大学
申请人地址 ：
吉林省长春市解放大路83号
代理机构 ：
吉林大学专利事务所
代理人 ：
张博然
优先权 ：
CN89200763.X
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
1992-05-13 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-06-20 ：
授权
1989-10-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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