无前单色器的X射线掠射聚焦衍射装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本实用新型是一种无前单色器的X射线掠射聚焦衍射装置。是材料的X射线衍射分析仪器。它是由X光管、普通半聚焦粉末衍射仪和一套附件构成，按照这种新型方案设计，可以使已有的普通半聚焦粉末衍射仪简便地变为一种新型的、无前单色器的西曼—波林(Seemann-Bohlin)掠射聚焦衍射装置。
基本信息
专利标题 ：
无前单色器的X射线掠射聚焦衍射装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85200024.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85200024U
授权日 ：
1986-08-13
发明人 ：
陶琨
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
张善余
优先权 ：
CN85200024.3
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
1991-12-25 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1987-02-25 ：
授权
1986-08-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
