聚焦-半聚焦两用X光衍射计
被视为撤回的申请
摘要
本发明提出一种用于测定晶体物质结构的聚焦〔西曼-博林〔Seeman—Bohlin)〕和半聚焦〔布拉格-布伦塔诺(Bragg—Brentano)〕两用的X光衍射计。这种衍射计，通过现场装拆少量部件，可用作聚焦衍射计，或半聚焦衍射计；具有一机两用的优点。其主要技术特征是在两同心的中心轴上装备一套三齿轮系统。
基本信息
专利标题 ：
聚焦-半聚焦两用X光衍射计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100097A
申请号 ：
CN85100097
公开（公告）日 ：
1986-09-03
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪泓宏
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
罗文群
优先权 ：
CN85100097
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
1989-12-20 ：
被视为撤回的申请
1987-03-11 ：
实质审查请求
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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