毛细管X光透镜共聚焦微区X射线荧光谱仪
专利权的终止
摘要
毛细管X光透镜共聚焦微区X射线荧光谱仪是由X光源、样品台、显微镜、探测器、X射线光源和样品台之间的整体毛细管X光会聚透镜以及样品台和探测器之间的整体毛细管X光平行束透镜组成,它可用来对样品进行三维无损微区X射线荧光分析。本实用新型的核心部件是安放在光源和样品台之间的整体毛细管X光会聚透镜和安放在样品台和探测器之间的整体毛细管X光平行束透镜。本实用新型的核心是通过对整体毛细管X光会聚透镜与整体毛细管X光平行束透镜的合理调节实现共聚焦,从而对样品进行三维无损微区X射线荧光分析。同时,本实用新型可以利用功率较低的光源进行X射线荧光分析。本实用新型结构简单,造价低廉,便于推广和普及。
基本信息
专利标题 :
毛细管X光透镜共聚焦微区X射线荧光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820139921.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-20
授权号 :
CN201417256Y
授权日 :
2010-03-03
发明人 :
刘志国孙天希滕玥鹏丁训良
申请人 :
北京师范大学
申请人地址 :
100875北京市海淀区新街口外大街19号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820139921.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2012-12-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101368918669
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2008201399216
申请日 : 20081020
授权公告日 : 20100303
终止日期 : 20111020
号牌文件序号 : 101368918669
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2008201399216
申请日 : 20081020
授权公告日 : 20100303
终止日期 : 20111020
2010-03-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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