微区X射线荧光黄金首饰分析装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种微区Ｘ射线荧光黄金首饰分析装置，包括检测样品荧光成分依次成电路联结的探测器（７）、前置放大器（８）、主放大器（９）、脉冲模数变换器（１０）和微机（１３）、和依次以光路联结的初级Ｘ射线发生器（１）、光阑孔（３）和４５°反射镜（４），以及观察样品（６）的显微装置（５）、置放样品（６）的显微装置（１１）。本发明由于采用微束Ｘ射线去激发黄金首饰散射特征元素荧光，从而达到快速，简便对黄金首饰进行精确可靠、非破坏性的测量目的。
基本信息
专利标题 ：
微区X射线荧光黄金首饰分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1110405A
申请号 ：
CN94112117.8
公开（公告）日 ：
1995-10-18
申请日 ：
1994-04-12
授权号 ：
CN1038874C
授权日 ：
1998-06-24
发明人 ：
朱节清乐安全谷英梅陆荣荣吴国栋
申请人 ：
中国科学院上海原子核研究所
申请人地址 ：
201800上海市加定区加罗公路2019号
代理机构 ：
上海华东专利事务所
代理人 ：
谢晋光
优先权 ：
CN94112117.8
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2002-06-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-06-24 ：
授权
1995-10-18 ：
公开
1995-03-15 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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