多元素同位素X射线荧光分析仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是根据新工作原理设计的一种多元素同位素X射线荧光分析仪，它有特殊设计的双探头非真空测量室，其轻元素探测器是铍窗厚度为25μ的高分辨率封闭式正比计数管，重元素探头为双源探头。同时采用了双通路512道脉冲处理器和独特的X荧光能谱数学解析技术，成功地解决了轻元素和相邻元素的定量分析问题，可以测定元素周期表中包括Al、Si等轻元素在内的大多数元素。本发明在冶金、地质、矿业、化工、建材等工业领域具有广泛的用途。
基本信息
专利标题 ：
多元素同位素X射线荧光分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1058470A
申请号 ：
CN91104263.6
公开（公告）日 ：
1992-02-05
申请日 ：
1991-07-02
授权号 ：
CN1031768C
授权日 ：
1996-05-08
发明人 ：
白友兆王亚林王益民杨李锋李桂兰李江
申请人 ：
中国建筑材料科学研究院水泥科学研究所
申请人地址 ：
100024北京市朝阳区管庄东里建材科学研究院内
代理机构 ：
北京师范学院专利事务所
代理人 ：
江崇玉
优先权 ：
CN91104263.6
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
1999-08-25 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1996-05-08 ：
授权
1992-02-05 ：
公开
1991-11-20 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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