同位素X荧光镀层测厚仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种同位素X荧光镀层测厚仪，由探头、X荧光光谱分析器和微机运算器组成，其特征在于探头激发源采用238PuX射线源，准直器为Fe、Pb、Sn复合而成并设计成狭长形，探测器采用鼓形正比计数管，放射源和探测器分别从两个方向朝向样品倾斜安装。本底计数低，测量精度高，。测量效率高，尤其适合于测量直径小，镀层薄的钢丝镀层测厚。
基本信息
专利标题 ：
同位素X荧光镀层测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89212407.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-04-24
授权号 ：
CN2064500U
授权日 ：
1990-10-24
发明人 ：
张泽夏娄慧玲胡为
申请人 ：
湖南省技术物理研究所
申请人地址 ：
湖南省长沙市烂泥冲
代理机构 ：
湖南省专利事务所
代理人 ：
李由
优先权 ：
CN89212407.5
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
1993-08-18 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-07-31 ：
授权
1990-10-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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