一种基于同位素用测厚仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于同位素用测厚仪,包括测厚仪底座、测量头、防护罩体、防护挡板和限位结构,所述测厚仪底座的顶部固定有测量头,且测量头外侧的测厚仪底座顶端铰接有防护罩体,并且防护罩体一侧的外壁上固定有把手,所述测厚仪底座的顶端设置有测量凹槽,且测量凹槽内部的中心位置处固定有测厚台,并且测厚台两侧的测量凹槽内部皆设置有出风口,所述测厚仪底座的内部设置有加热腔,且加热腔两侧的测厚仪底座外壁上皆设置有进风口。本实用新型不仅有效的减少了辐射对检测人员造成的伤害、使得测厚仪的使用更加安全,减少了在低温环境下启动造成测厚仪的损坏,而且实现了物体的限位功能。

基本信息
专利标题 :
一种基于同位素用测厚仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020497202.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-08
授权号 :
CN212133597U
授权日 :
2020-12-11
发明人 :
邱清徐刚田力
申请人 :
启迪新核(北京)能源科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区成府路45号中关村智造大街A座三层302
代理机构 :
北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘淑芬
优先权 :
CN202020497202.2
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2020-12-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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