可换靶式同位素测厚仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型公开了一种可换靶式同位素测厚仪，其特征是采用初级射线源与可更换的靶组成可换靶式源，在初级源的激发下，不同靶产生不同能量的X射线，对不同材质、不同厚度实现最灵敏的测量。本实用新型设计有开度可调的准直器来调节射束的强度，对不同厚度的材质实现等精度测量。为了随时对测厚仪进行校准，还设计有自动跟随校正器。本实用新型具有测厚范围宽、灵敏度高、稳定性好、结构简单、使用维护方便等优点。
基本信息
专利标题 ：
可换靶式同位素测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87214943.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-11-04
授权号 ：
CN87214943U
授权日 ：
1988-06-08
发明人 ：
李福全
申请人 ：
核工业部大连应用技术研究所
申请人地址 ：
辽宁省大连市21信箱45分箱
代理机构 ：
核工业部专利法律事务所
代理人 ：
董同源
优先权 ：
CN87214943.9
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
1993-03-03 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-02-22 ：
授权
1988-06-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
