测厚仪

授权

摘要

本申请公开了一种测厚仪，包括相对设置的发射机构和接收机构，基材自发射机构和接收机构之间穿过，发射机构发出的射线、穿过基材后被接收机构接收，根据接收到的射线辐射量，能够获知基材的厚度；其中，发射机构包括：放射源、源轴、保护盒以及旋转驱动组件，源轴上开有第一孔，放射源的放射端暴露在第一孔中，保护盒上开有第二孔；测厚时，旋转驱动组件驱动源轴旋转至第一孔与第二孔连通，放射源的放射端经由第二孔暴露后、发出的射线能够照射到基材上；测厚结束，旋转驱动组件再次驱动源轴旋转，使得第一孔远离第二孔，进而避免射线逸出；通过旋转驱动组件及源轴，能够带动放射源旋转实现射线的释放和封闭，进而简化设备、提高工作效率。

基本信息

专利标题：

测厚仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022163546.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-28

授权号：

CN213021485U

授权日：

2021-04-20

发明人：

不公告发明人

申请人：

无锡先导智能装备股份有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市无锡高新技术产业开发区新洲路18号先导二厂

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022163546.2

主分类号：

G01B15/02

IPC分类号：

G01B15/02