一种薄金属板带应力分布的评价方法
实质审查的生效
摘要
一种薄金属板带应力分布的评价方法，对薄金属板带沿轧向、横向进行蚀刻分切制取样条并对样条沿厚度方向进行半蚀刻，测量板带平放时样条挠曲高度及垂直放置时样条侧弯量，通过样条挠曲高度及侧弯量来评价板带厚度方向的应力分布情况，应用于半蚀刻加工工艺金属的其潜在板形进行判断，从而为应力定量测试指明测量方法。当挠曲高度≥0.5mm,则认定应力分布不均匀，采用X射线测量板带上下表面、1/4厚度、1/2厚度、3/4厚度部位的应力；当挠曲高度<0.5mm，通过侧弯量来进一步判断应力分布。当侧弯≥20mm，可判断板带应力分布不均，采用X射线测量板带上下表面、1/4厚度、1/2厚度、3/4厚度的应力。当侧弯＜20mm，可判断厚度应力均匀，只需用X射线测量单表面的应力。
基本信息
专利标题 ：
一种薄金属板带应力分布的评价方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414595A
申请号 ：
CN202111599617.6
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
祝儒飞娄花芬刘宇宁白依可张嘉凝莫永达王虎王云鹏王苗苗王同波代晓腾蔡正旭
申请人 ：
昆明冶金研究院有限公司北京分公司
申请人地址 ：
北京市昌平区北七家镇未来科学城南区中铝科学技术研究院10号楼2层
代理机构 ：
中国有色金属工业专利中心
代理人 ：
范威
优先权 ：
CN202111599617.6
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00 G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/00
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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