β射线测定蛋壳厚度的装置
专利权的终止
摘要
β射线测定蛋壳厚度的装置，利用β射线对物质的反射强度和物质的厚度成正相关测定蛋壳厚度，属于核技术应用领域。本实用新型由环状测试头、光电倍增管、锡箔及计数器组成。测试头内向环心倾斜45度角的放射源发出一束β射线辐射蛋壳，反射后穿透锡箔到光电倍增管，经放大转换成电脉冲信号输出，由计数器显示结果。
基本信息
专利标题 ：
β射线测定蛋壳厚度的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86207436.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-10-15
授权号 ：
CN86207436U
授权日 ：
1987-09-09
发明人 ：
王树禹崔在久
申请人 ：
东北农学院同位素教研室
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市香坊区公滨路东北农学院同位素教研室
代理机构 ：
黑龙江省专利服务中心
代理人 ：
于坤
优先权 ：
CN86207436.3
主分类号 ：
G01N33/08
IPC分类号 ：
G01N33/08 G01B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
G01N33/02
食物
G01N33/08
蛋，例如用光照
法律状态
1990-03-14 ：
专利权的终止
1988-03-23 ：
授权
1987-09-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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