X射线回摆曲线测定系统

专利权的终止

摘要

X射线回摆曲线测定系统，包括X射线发生器、衍射线控测器、晶片样品旋转台及计算机控制系统；所述的X射线发生装置中设置有X射线管和单色器，X射线管的出口射线以布拉格θ角照射在直立的单色器上，去掉K_β及连续谱线，剩下的较单色化的K_α射线照射在晶片样品旋转台上的被测晶片上，并在被测晶片中心交于一点，产生晶片衍射光线，晶片衍射光线被X射线探测器接收；所述的计算机系统，包括数据采集器、工业用PC机、打印机及应用软件；所述控测器的输出信号经数据采集器后进入工业用PC机，由应用软件进行去掉K_α2谱线处理后得到样品晶片的回摆曲线。本实用新型具有不破坏样品、无污染、快捷、测量精度高等优点。

基本信息

专利标题：

X射线回摆曲线测定系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620091761.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-06-27

授权号：

CN200979535Y

授权日：

2007-11-21

发明人：

关守平赵久

申请人：

关守平;赵久

申请人地址：

110004辽宁省沈阳市东北大学131信箱

代理机构：

沈阳利泰专利代理有限公司

代理人：

李枢

优先权：

CN200620091761.3

主分类号：

G01N23/20

IPC分类号：

G01N23/20