射线测厚方法和射线数字厚度计
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明用于材料厚度的无接触在线测量，由放射源、探测器和二次仪表构成。其二次仪表包括静电计，双积分式比值对数A/D变换器，时间常数调整电路和V0保持电路，V0为材料厚度为0时静电计的输出电压。由于引入了双积分比值对数A/D变换器，并且在变换器积分过程中能改变时间常数，使本厚度计在量程范围内能给出满足误差要求的厚度数字指示。
基本信息
专利标题 ：
射线测厚方法和射线数字厚度计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87104383A
申请号 ：
CN87104383.1
公开（公告）日 ：
1988-08-17
申请日 ：
1987-06-25
授权号 ：
CN87104383B
授权日 ：
1988-09-21
发明人 ：
王泽民
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
张志东
优先权 ：
CN87104383.1
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
1996-08-07 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-07-05 ：
授权
1988-09-21 ：
审定
1988-08-17 ：
公开
1987-11-25 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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