一种X射线厚度检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及X射线测厚设备技术领域，且公开了一种X射线厚度检测装置，包括型材支架，所述型材支架的顶部与内壁底部均固定安装有数量为五个并延伸至型材支架右侧的连接件，底部五个所述连接件的右侧固定安装有下模组，顶部五个所述连接件的右侧固定安装有上模组，所述下模组的右侧外部传动连接有第一滑块，所述上模组的右侧外部传动连接有第二滑块，所述第一滑块的右侧固定安装有延伸至下模组上方的第一连接板。该X射线厚度检测装置，可有效降低装置生产成本，降低生产所需周期时长，且加工难度低，维修维护方便，降低操作人员的调试工作难度，同时对组装调试人员技术水平要求较低。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线厚度检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921790548.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-23
授权号 ：
CN210426466U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
施永扬
申请人 ：
杭州蓝普自动化科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区余杭经济技术开发区泰极路3号一号楼103C-1
代理机构 ：
成都明涛智创专利代理有限公司
代理人 ：
丁国勇
优先权 ：
CN201921790548.5
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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