一种离型纸硅油涂层厚度的X射线荧光光谱检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种离型纸硅油涂层厚度的X射线荧光光谱检测装置,涉及离型纸光谱检测设备领域,针对现有的离型纸硅油涂层厚度检测装置存在的无法保证检测装置的检测清洁度,检测精确度低、效果差,且检测的自动化强度弱,工作效率低的问题,现提出如下方案,其包括固定结构,所述固定结构内侧设置有支撑结构,所述支撑结构与固定结构之间设置有限位结构,所述限位结构与支撑结构之间设置有光谱检测仪,所述支撑结构内侧设置有用于对光谱检测仪进行清洁的清洁结构,所述支撑结构侧壁设置有对离型纸进行传输的传送结构。本实用新型结构新颖,且适用范围广,便于进行清洁,检测精确度高、效果好、效率高。

基本信息
专利标题 :
一种离型纸硅油涂层厚度的X射线荧光光谱检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123263761.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
CN216348432U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
曾云钿李若兵陈叶付杨宗赛
申请人 :
广东聚德新材料科技有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市博罗县龙溪街道小蓬岗村东泰工业园
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202123263761.0
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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