一种X射线荧光光谱仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种X射线荧光光谱仪,包括光谱仪本体和散热风扇,所述光谱仪本体的下端开设有内置元件区,且内置元件区的左端内壁上通过螺丝安装有四组散热风扇,所述光谱仪本体的右端下侧开设有出风口,所述光谱仪本体的上端铰接有封盖,且封盖盖设在工作区的上端,所述工作区开设在光谱仪本体的上侧,所述封盖的前端下侧插设有旋钮,且旋钮的背端焊接有嵌块,所述嵌块嵌在光谱仪本体的前端下侧。本实用新型通过设置两组夹板,使得部分圆润的物体如果不能够直接放入工作区进行检测时,可以通过两组夹板对物体进行限位和固定,致使物体能够保持固定状态,从而防止物体晃动导致检测效果不佳。

基本信息
专利标题 :
一种X射线荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921454128.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-03
授权号 :
CN210775288U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
卓剑峰何敏燕
申请人 :
杭州和瑞精密仪器有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区长河街道江南大道518号兴耀大厦第17层1708室
代理机构 :
北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蔡岩岩
优先权 :
CN201921454128.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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