X荧光测厚光谱仪
专利权的终止
摘要
一种X荧光测厚光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，其特征在于：所述机身包括外壳机身和样品腔，其特征在于：所述样品腔包括可上下活动的透明屏蔽罩。所述机身内设有样品腔，所述样品腔包括升降平台、电机、导轨和按键，升降平台在电机拉动下，沿着导轨上下平稳地移动，移动的方向和距离通过按键控制。
基本信息
专利标题 ：
X荧光测厚光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720196524.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-12-27
授权号 ：
CN201177501Y
授权日 ：
2009-01-07
发明人 ：
刘召贵应刚胡晓斌
申请人 ：
江苏天瑞信息技术有限公司
申请人地址 ：
215347江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园
代理机构 ：
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 ：
刘大弯
优先权 ：
CN200720196524.8
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02 G01N23/223
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2017-02-22 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101705188795
IPC(主分类) : G01B 15/02
专利号 : ZL2007201965248
申请日 : 20071227
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20151227
号牌文件序号 : 101705188795
IPC(主分类) : G01B 15/02
专利号 : ZL2007201965248
申请日 : 20071227
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20151227
2009-06-03 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更后 : 江苏天瑞仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园,邮编 : 215347
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215347
变更前 : 江苏天瑞信息技术有限公司
变更后 : 江苏天瑞仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园,邮编 : 215347
变更后 : 江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编 : 215347
2009-01-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201177501Y.PDF
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