能量色散X荧光光谱仪
专利权的终止
摘要
本实用新型属于测量技术,涉及对多元素定量分析的能量色散X荧光分析仪的改进。仪器由准直器、CCD、滤光片、驱动马达、探测器、X光管、滤光转盘、高压电源、驱动/转接板、接口板、计算机、USB接口线、机壳、大样品室以及小样品室组成,壳体内接口板与驱动/转接板连接,驱动/转接板分别与驱动马达、转盘位置检测装置、样品盖指示灯、高压电源连接;高压电源连接X射线管,驱动马达连接滤光转盘;探测器、接口板和CCD安装在壳体内并分别与计算机的三个USB接口相接;壳体上方连接大样品室,大样品室上开有小样品室。本实用新型做到了小样品测试安全方便,大样品测试只要按系统提示操作同样可保证操作人员安全。
基本信息
专利标题 :
能量色散X荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720190536.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-03
授权号 :
CN201138335Y
授权日 :
2008-10-22
发明人 :
刘召贵应刚胡晓斌
申请人 :
北京邦鑫伟业技术开发有限公司
申请人地址 :
102200北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区
代理机构 :
中国航空专利中心
代理人 :
李建英
优先权 :
CN200720190536.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2018-01-23 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20071203
授权公告日 : 20081022
申请日 : 20071203
授权公告日 : 20081022
2008-10-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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