真空检测X荧光能量色散光谱仪
专利权的终止
摘要
一种真空检测X荧光能量色散光谱仪，包括机身和与之相连的PC机，其中，所述机身内安装有光源系统、探测器系统、以及信号处理系统，其中，所述光源系统包括高压单元和X光管，光源系统发射出X射线，X射线作用在样品上后，样品中的各个原子会被激发出特征X荧光，这些X荧光被探测器所接收，分析转化为电信号，电信号经过信号处理系统的处理，再传输到PC机中，在机身和与之相连的电脑的用户界面上显示出来，所述真空检测X荧光能量色散光谱仪的机身包括一金属框架和一外壳，其中，所述光源系统、探测器系统、以及信号处理系统均固定于所述金属框架上。
基本信息
专利标题 ：
真空检测X荧光能量色散光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620014539.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-09-06
授权号 ：
CN200950126Y
授权日 ：
2007-09-19
发明人 ：
刘召贵
申请人 ：
深圳市天瑞仪器有限公司
申请人地址 ：
518000广东省深圳市宝安区福永镇重庆路科比新工业园
代理机构 ：
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 ：
刘大弯
优先权 ：
CN200620014539.3
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2016-10-26 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101684508678
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006200145393
申请日 : 20060906
授权公告日 : 20070919
终止日期 : 20150906
号牌文件序号 : 101684508678
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006200145393
申请日 : 20060906
授权公告日 : 20070919
终止日期 : 20150906
2007-09-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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