X荧光光谱仪真空罩
授权
摘要
本实用新型公开了一种X荧光光谱仪真空罩，包括罩体和位于罩体上表面的提升部；提升部内开设有容纳空间，所述容纳空间内设置有测试组件，用于检测罩体内的空气；测试组件包括测试杆、密封片和覆盖层，提升部开设有连通孔，以将罩体和容纳空间连通，且密封片用于覆盖连通孔，以隔离容纳空间和罩体；测试杆设置在容纳空间内并能沿竖直方向运动，测试杆的下端部设置有金属钠；测试杆呈透明设置；覆盖层设置在提升部的上表面，且覆盖层的边缘与提升部固定；在初始状态时，测试杆的上端部穿设出提升部，并与覆盖层接触；推动测试杆以使其穿设过密封片，用以将金属钠推至罩体内。本实用新型便于检测真空罩内是否有空气。
基本信息
专利标题 ：
X荧光光谱仪真空罩
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020346475.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-18
授权号 ：
CN212008378U
授权日 ：
2020-11-24
发明人 ：
程鸿林
申请人 ：
苏州博讯仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区旺米街39号
代理机构 ：
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李艾
优先权 ：
CN202020346475.7
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-11-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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