一种荧光光谱仪
授权
摘要

本实用新型提供了一种荧光光谱仪,涉及测量仪器技术领域。其中,包括荧光光谱仪本体和电源控制柜,电源控制柜安装在荧光光谱仪本体的上端,荧光光谱仪本体包括盖板、发生箱体、工作板、透射窗、探测器、X射线发生器、固定装置、移动装置和空腔。本实用新型通过设置防护罩,待测物可以在防护罩内发生检测,防护效果好,通过设置固定装置,可以对待测物进行固定夹紧,保证了待测物的稳定性,且推杆的长度可调,可以适用于各种范围大小的待测物,实用性大,移动装置的设置,便于设备的移动,灵活性强,通过设置真空泵,可以将发生箱体内的待测物处的空间内的空气抽空,形成真空环境,避免检测过程中受空气中氮气或其他物质的影响。

基本信息
专利标题 :
一种荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021563779.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN212932451U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
陈景川刘正清何加安
申请人 :
纳润(厦门)科技有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市环东海域美溪道湖里工业园92号1层B区
代理机构 :
厦门佰业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
钟桦
优先权 :
CN202021563779.5
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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