真空X荧光能量色散光谱仪
专利权的终止
摘要
一种高精度X荧光能量色散光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，所述机身包括箱体、移动平台以及准直器滤光片自动更换系统，其中，所述移动平台和准直器滤光片自动更换系统均安装于所述箱体中，所述准直器滤光片自动更换系统位于所述移动平台下方。
基本信息
专利标题 ：
真空X荧光能量色散光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720062798.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-03-28
授权号 ：
CN201034950Y
授权日 ：
2008-03-12
发明人 ：
刘召贵
申请人 ：
深圳市天瑞仪器有限公司
申请人地址 ：
518000广东省深圳市宝安区福永镇重庆路科比新工业园
代理机构 ：
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 ：
刘大弯
优先权 ：
CN200720062798.8
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01J3/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2017-05-17 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101719594943
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2007200627988
申请日 : 20070328
授权公告日 : 20080312
终止日期 : 20160328
号牌文件序号 : 101719594943
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2007200627988
申请日 : 20070328
授权公告日 : 20080312
终止日期 : 20160328
2008-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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