高精度X荧光能量色散光谱仪

专利权的终止

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摘要

一种高精度X荧光能量色散光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，所述机身包括箱体、移动平台以及准直器滤光片自动更换系统，其中，所述移动平台和准直器滤光片自动更换系统均安装于所述箱体中，所述准直器滤光片自动更换系统位于所述移动平台下方。

基本信息

专利标题：

高精度X荧光能量色散光谱仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720062799.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-03-28

授权号：

CN201053955Y

授权日：

2008-04-30

发明人：

刘召贵

申请人：

深圳市天瑞仪器有限公司

申请人地址：

518000广东省深圳市宝安区福永镇重庆路科比新工业园

代理机构：

深圳市凯达知识产权事务所

代理人：

刘大弯

优先权：

CN200720062799.2

主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

G01N23/223 G01J3/10

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N23/00

利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子

G01N23/22

通过测量材料的二次发射

G01N23/223

通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光

法律状态

2017-05-17 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101719587500
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2007200627992
申请日 : 20070328
授权公告日 : 20080430
终止日期 : 20160328

2008-04-30 ：

授权

2008-04-23 ：

地址不明的通知

收件人 : 刘大弯
文件名称 : 授予实用新型专利权及办理登记手续通知书

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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