一种自动定位X荧光能量色散光谱仪
专利权的终止
摘要

一种自动定位X荧光能量色散光谱仪,包括机身和与之相连的PC机,其中,所述机身内安装有光源系统和探测器系统,信号处理以及MCA模块系统,其中,所述光源系统包括高压和光管,光源系统发射出X射线,X射线作用在样品上后,样品中的各个原子会被激发出特征X荧光,这些X荧光被探测器所接收,分析转化为电信号,电信号经过MCA模块系统的处理,再传输到PC机中,在软件的用户界面上显示出来,所述机身包括主机架和三维样品移动平台装置,其中,所述光源系统和探测器系统,信号处理以及MCA模块系统固定安装在所述主机架上,所述三维样品移动平台位于所述主机架下方,用于放置和移动样品。

基本信息
专利标题 :
一种自动定位X荧光能量色散光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620014536.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-09-06
授权号 :
CN200953004Y
授权日 :
2007-09-26
发明人 :
刘召贵
申请人 :
深圳市天瑞仪器有限公司
申请人地址 :
518000广东省深圳市宝安区福永镇重庆路科比新工业园
代理机构 :
深圳市凯达知识产权事务所
代理人 :
刘大弯
优先权 :
CN200620014536.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2016-10-26 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101684508277
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL200620014536X
申请日 : 20060906
授权公告日 : 20070926
终止日期 : 20150906
2007-09-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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