一种具有教学功能的X射线荧光光谱仪
授权
摘要
一种具有教学功能的X射线荧光光谱仪,包括测样面板、能够定位的样品台、X射线管、摄像机构、次级吸收片、吸收片座、探测器、组合样品盒和壳体,壳体内部设置有安装腔,测样面板、能够定位的样品台、X射线管、摄像机构、次级吸收片、吸收片座、探测器和组合样品盒安装在安装腔内,壳体上设置有取样门和外调节钮,外调节钮与能够定位的样品台连接,能够定位的样品台通过第一滑动装置安装在测样面板上,组合样品盒安装在能够定位的样品台上,吸收片座安装在测样面板上,次级吸收片安装在吸收片座上,X射线管上设有发射口,发射口、摄像机构和次级吸收片与组合样品盒相对设置,探测器上设置有探测头,次级吸收片遮盖探测头。可安全高效地实验。
基本信息
专利标题 :
一种具有教学功能的X射线荧光光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122806817.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
CN216747502U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
范真
申请人 :
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 :
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 :
何子扬
优先权 :
CN202122806817.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G09B23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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