金饰品的X射线荧光检验法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种测定金饰品的Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）检验法，包括：在确定条件下制作标准样品的校正曲线，测定样品各元素的ＸＲＦ强度，计算各元素的假含量Ｘｉ（假）和近似含量Ｘｉ（近），归一处理这些假含量，便可获得各元素的近似含量Ｘｉ（近），变换标准校正曲线的斜率，计算样品各元素的可信含量Ｘｉ（可），对元素可信含量再做归一处理，获得各元素报出含量值Ｘｉ（报）。
基本信息
专利标题 ：
金饰品的X射线荧光检验法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1091829A
申请号 ：
CN93117164.4
公开（公告）日 ：
1994-09-07
申请日 ：
1993-09-13
授权号 ：
CN1037713C
授权日 ：
1998-03-11
发明人 ：
李景春董鼎新许剑浩陈风琴沈洪涛
申请人 ：
中国石化大庆石油化工总厂
申请人地址 ：
163714黑龙江省大庆市龙凤区大庆石油化工总厂质量管理处
代理机构 ：
北京市东城区专利代理事务所
代理人 ：
高仰贤
优先权 ：
CN93117164.4
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
1999-11-03 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-03-11 ：
授权
1995-01-18 ：
实质审查请求的生效
1994-09-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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