一种X射线荧光光谱法样品采集测试盒
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摘要

本实用新型公开了一种X射线荧光光谱法样品采集测试盒,包括呈方体状的盒主体,所述盒主体内设有沿长度方向延伸的隔板,所述隔板将盒主体的内部分隔为两部分;每部分内均设有若干层板,所述层板将每部分的内部划分为多层;所述每层上还有若干挡板,将每层分隔为多个空间,每个空间内分别设有一样品盒,所述样品盒和所述空间可分离;所述空间朝外的一侧为开口;所述盒主体、隔板、层板、挡板和所述样品盒均采用聚乙烯材质。本实用新型克服了使用X射线荧光光谱仪在测量时需要不断将样品从样品盒转移到测试盒中,并且需要在测试完毕后将样品从测试盒中不遗留地转移出的问题。同时,本实用新型设计简单、生产方便、造价成本较低,适合批量生产推广。

基本信息
专利标题 :
一种X射线荧光光谱法样品采集测试盒
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921916998.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-08
授权号 :
CN210923526U
授权日 :
2020-07-03
发明人 :
马枭姜红任界芝
申请人 :
中国人民公安大学
申请人地址 :
北京市西城区木樨地南里1号
代理机构 :
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汤东凤
优先权 :
CN201921916998.4
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-07-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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