一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托
专利权的终止
摘要

一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托,涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本实用新型的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成,代替了成本较高的化学试剂,减少了压制样品片被污染的可能性,减少了测量的误差,减少了样片表面的花面、表面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。

基本信息
专利标题 :
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720190855.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-17
授权号 :
CN201122138Y
授权日 :
2008-09-24
发明人 :
梁倩石勇孙洪斌
申请人 :
中国铝业股份有限公司
申请人地址 :
100082北京市海淀区西直门北大街62号
代理机构 :
中国有色金属工业专利中心
代理人 :
李迎春
优先权 :
CN200720190855.0
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28  G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2018-01-23 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 1/28
申请日 : 20071217
授权公告日 : 20080924
2008-09-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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