一种荧光分析仪样品托架
授权
摘要
本实用新型公开了一种荧光分析仪样品托架，包括顶板。所述顶板的下方连接有弹簧，所述弹簧的底端设于支撑板顶部的凹槽内，支撑板的形状为圆形且其顶部边缘处均匀设有若干个侧板，所述支撑板的下方设有底座，所述侧板、所述支撑板和所述底座一体成形。本荧光分析仪样品托架结构简单、使用方便，制作成本低，使用寿命长，降低了检测成本。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光分析仪样品托架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021252285.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-01
授权号 ：
CN212568480U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
靳威杨永团李永政朱国文李晋李娟妹
申请人 ：
岚县金隅水泥有限公司
申请人地址 ：
山西省吕梁市岚县工业园区
代理机构 ：
太原景誉专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马丽平
优先权 ：
CN202021252285.5
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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