荧光测量用固体托架

专利权的终止

摘要

一种荧光测量用固体托架包括托架体及盖体，托架体、盖体均为石英透明材料，托架体上开有样品凹槽，托架体一端设有延伸凹槽，用来托住和压紧盖体。使用时，将所需测量的固体样品放入托架体上的凹槽中，再用盖体盖好，之后放入荧光测量设备中进行测量。本实用新型的荧光测量用固体托架结构简单，具有样品不易滑落、样品量少、样品可回收的特点，它能节省样品，无污染，易清洗，且能防杂光、散光。

基本信息

专利标题：

荧光测量用固体托架

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620097013.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-05-30

授权号：

CN200953001Y

授权日：

2007-09-26

发明人：

高希存

申请人：

南昌大学

申请人地址：

330047江西省南昌市南京东路235号南昌大学理学院

代理机构：

江西省专利事务所

代理人：

黄新平

优先权：

CN200620097013.6

主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/64 G01N21/01

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N21/00

利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料

G01N21/62

所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统

G01N21/63

光学激发的

G01N21/64

荧光；磷光

法律状态

2010-09-01 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005245672
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2006200970136
申请日 : 20060530
授权公告日 : 20070926

2007-09-26 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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