一种荧光光谱测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及检测设备技术领域，且公开了一种荧光光谱测量装置，包括测量仪本体，所述测量仪本体的表面栓接有U形框，所述U形框的内壁开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块与滑槽的内壁之间设置有限位机构，所述滑块之间栓接有挡板；本实用新型通过移动推块使挡板沿着滑槽移动并对测量仪本体上的显示屏进行遮挡，从而达到对显示屏进行保护的目的，避免了显示屏刮花或者损坏，提高了显示屏的使用寿命和使用体验，本实用新型通过拧动转动筒时转动筒横向移动并对弹性卡片进行挤压的方式，能够达到防止连接线松动的目的，提高了装置使用的稳定性，保证了检测效率，提高了工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光光谱测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122896113.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-24
授权号 ：
CN216350342U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
梁子军甘海浪郭瑷铭黄峰
申请人 ：
赢洲科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区春东路508号2幢408室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122896113.2
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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