超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法
实质审查的生效
摘要
提供一种超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法，其中超表面器件包括：透射型超表面，所述透射型超表面被划分成多个超表面单元；其中所述多个超表面单元中的每个超表面单元对入射光光谱透过率的调制是唯一的，所述多个超表面单元的透射谱两两正交。根据本发明技术方案，超表面对光谱编码精准，且超表面加工方式为半导体兼容工艺，更适宜大批量量产。
基本信息
专利标题 ：
超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114543993A
申请号 ：
CN202210170143.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郝成龙谭凤泽朱瑞朱健
申请人 ：
深圳迈塔兰斯科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼
代理机构 ：
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张金香
优先权 ：
CN202210170143.1
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G02B1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20220223
申请日 : 20220223
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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