原位高压吸收光谱测量系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种原位高压吸收光谱测量系统，其包括：光源单元，至少用于提供对待测样品进行照射的入射光束；扩束准直单元，至少用于对所述入射光束进行扩束准直以形成平行光束；第一显微物镜单元，至少用于将经扩束准直后的光束导入高压样品容置单元的高压腔内；高压样品容置单元，至少用于为待测样品提供高压测量环境；第二显微物镜单元，至少用于将所述高压样品容置单元的高压腔内的待测样品出射的出射光束导入光谱处理单元；光谱处理单元，至少用于对所述的出射光束进行光谱检测并对获得的光谱进行分析处理。本实用新型提供的原位高压吸收光谱测量系统能够在高压条件下测量物质紫外‑可见吸收光谱，具有很高的稳定性、准直性和灵活性。

基本信息

专利标题：

原位高压吸收光谱测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921612343.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-26

授权号：

CN210803269U

授权日：

2020-06-19

发明人：

潘凌云张宇黄晓丽黄艳萍崔田

申请人：

吉林大学

申请人地址：

吉林省长春市前进大街2699号

代理机构：

南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

赵世发

优先权：

CN201921612343.8

主分类号：

G01N21/33

IPC分类号：

G01N21/33