水下成像光谱仪原位测量系统
授权
摘要

本实用新型提出一种水下成像光谱仪原位测量系统,所述水下成像光谱仪原位测量系统包括:框架,框架为开放式结构;传感器组件,设置在所述框架的一侧,所述传感器组件包括至少一个辐照度传感器和至少一个辐亮度传感器;相机组件,相机组件包括多个相机,任一相机设紧贴辐照度传感器或辐亮度传感器设置在框架上,辐照度传感器、辐亮度传感器和相机均设置在同一水平面上;主机设备,传感器组件采集的测量数据和相机组件采集的图像数据经过导线传输到主机设备。本申请提供一种水下成像光谱仪原位测量系统,解决了现有技术中缺少一种水下成像光谱仪原位测量系统,实现图谱合一以满足对水下环境进行监测和探测需求的技术问题。

基本信息
专利标题 :
水下成像光谱仪原位测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022365368.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-21
授权号 :
CN213600570U
授权日 :
2021-07-02
发明人 :
周稳稳蒋二龙欧阳湘东胡海亮
申请人 :
莱森光学(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道后亭茅洲山工业园工业大厦全至科技创新园科创大厦11层C
代理机构 :
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 :
刘冰
优先权 :
CN202022365368.1
主分类号 :
G01N21/25
IPC分类号 :
G01N21/25  G01J3/28  G01J3/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2021-07-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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