一种成像测量系统
授权
摘要

本公开涉及成像测量技术领域,提供一种用于病理标本成像测量的系统。具体技术方案是,本公开的成像测量系统,其特征在于,包括通讯连接的下位机和上位机,该下位机分别与测距装置和伺服驱动装置连接,该伺服驱动装置的输出轴上固定有第一齿轮;该上位机与拍摄装置连接,该拍摄装置设有变焦镜头,该变焦镜头的变焦环的外周上环抱固定有第二齿轮,该第一齿轮与第二齿轮构成齿轮副;该测距装置的测距方向与拍摄装置的拍摄方向相同。本公开成像测量系统通过上位机计算图像大小与实际大小的比例,可获取病理标本图像上标本全部或部分的长度、周长或面积等多种尺寸。

基本信息
专利标题 :
一种成像测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921471594.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-05
授权号 :
CN211013976U
授权日 :
2020-07-14
发明人 :
张剑高平安
申请人 :
西安瑞丰仪器设备有限责任公司
申请人地址 :
陕西省西安市碑林区柿园路188号东方星座B座503号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921471594.9
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-07-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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