一种光谱-偏振成像测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种光谱‑偏振成像测量系统。本实用新型包括偏振光产生模组、滤光模组与偏振成像测量模组三个部分。偏振光产生模组产生特定偏振态的偏振光并以之照射待测物体,滤光模组对待测物体发出的光进行滤光,偏振成像测量模组对通过滤光模组的光进行偏振分光与偏振成像。本实用新型的滤光模组体积小,结构简单,偏振测量模组无机械运动器件,可靠性高。
基本信息
专利标题 :
一种光谱-偏振成像测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020182022.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-18
授权号 :
CN211978676U
授权日 :
2020-11-20
发明人 :
何赛灵王楠
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
林松海
优先权 :
CN202020182022.5
主分类号 :
G01N21/21
IPC分类号 :
G01N21/21 G01N21/25 G01N21/01 G02B27/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2020-11-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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