一种高光谱成像显微大数据测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高光谱成像显微大数据测量系统，包括显微镜组件、数据处理模块、显示器，所述显微镜组件包括显微镜模块、测量显微模块和高光谱成像模块，所述显微镜模块上设置有测量目镜和高光谱目镜，所述测量显微模块与所述测量目镜连接，所述高光谱成像模块与所述高光谱目镜连接；所述数据处理模块与所述显微镜组件电连接；所述显示器分别与所述显微镜组件和所述数据处理模块电连接。通过将高光谱成像测量技术与大数据测量结合，实现自动化智能化的高光谱成像显微大数据测量，操作简便，测量效率更快，测量数据更精确。
基本信息
专利标题 ：
一种高光谱成像显微大数据测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022514667.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN213749626U
授权日 ：
2021-07-20
发明人 ：
乔铁高瑞
申请人 ：
广州大秦光镊科学仪器科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区石楼镇创启路63号创启3号楼104单元
代理机构 ：
广州新诺专利商标事务所有限公司
代理人 ：
罗毅萍
优先权 ：
CN202022514667.7
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01 G02B21/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-07-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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