多光谱辐射温度计测量数据处理方法
实质审查的生效
摘要
多光谱辐射温度计测量数据处理方法,解决了现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对少数材料适合的问题,属于光谱数据处理技术领域。本发明的一种多光谱辐射温度计测量数据处理方法,所述方法包括:S1、获取多光谱辐射温度计的测量数据xk和对应的真实温度yk;S2、根据xk,yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合,获得残余误差平方和Q;S3、去掉第m次项,用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1进行拟合,获得残余误差平方和Q′;S4、根据Q和Q′,获取方差比Fm,判断Fm是否大于临界值Fα,若是,m=m+1,转入S2,否则,根据当前m的取值,采用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1作为多光谱辐射温度计的测量数据的拟合曲线模型。
基本信息
专利标题 :
多光谱辐射温度计测量数据处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114329990A
申请号 :
CN202111662252.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
于天河戴景民
申请人 :
天合(无锡)仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区清源路20号立业楼B503
代理机构 :
哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司
代理人 :
杨晓辉
优先权 :
CN202111662252.7
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20 G06F17/10 G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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