紫外光谱辐射通量测量装置
授权
摘要
本公开提供一种紫外光谱辐射通量测量装置，包括：紫外标准辐射源(1)，可转动设置于旋转台(2)上，紫外标准辐射源(1)分别以第一轴线或第二轴线为旋转轴，第一轴线与第二轴线正交；辐射通量测量仪(3)，设置于紫外标准辐射源(1)的紫外光路上，以测量紫外标准辐射源(1)的辐射通量；其中，辐射通量测量仪(3)包含第一光栅(301)和第二光栅(302)，第一光栅(301)与第二光栅(302)分别设置于不同的腔室，以依次对紫外光进行分光；第一轴线与辐射通量测量仪(3)的光接收面垂直。本公开的紫外光谱辐射通量测量装置实现了200nm‑450nm波长范围的紫外光谱辐射通量的精确测量。
基本信息
专利标题 ：
紫外光谱辐射通量测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122963587.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
CN216283950U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
王彦飞代彩红许超群李玲吴志峰程秋桐贺书芳刘金元谢一航
申请人 ：
中国计量科学研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
王文思
优先权 ：
CN202122963587.4
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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