粒度测量数据处理装置
被视为撤回的申请
摘要
本发明是一种用于圆盘离心粒度仪的数据处理装置。由于提出了新颖独特的设计原理，可以计算个数、长度、面积和重量四种基准粒度分布百分数，各种平均粒径与此表面积，拟合四种基准对数正态分布参数，打印重量基准频度分布直方图和打印四种基准对数正态分布累积与频度分布光滑彩色曲线。
基本信息
专利标题 ：
粒度测量数据处理装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86108853A
申请号 ：
CN86108853
公开（公告）日 ：
1988-07-20
申请日 ：
1986-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高光天张季冬
申请人 ：
中国科学院长春物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市新民大街13号
代理机构 ：
中科院长春专利事务所
代理人 ：
马守忠
优先权 ：
CN86108853
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N15/04 G01N15/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1989-09-13 ：
被视为撤回的申请
1988-07-20 ：
公开
1987-09-30 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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