一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置：单光源多光束激光发射系统，包括激光器、光纤分束器和准直扩束器；激光器发射的激光束依次经光纤分束器和准直扩束器限制成直径不同的准直平行光束，照射输送带形成直径不同的多光斑，颗粒经过光斑产生散射光信号；散射光信号采集系统，包括三条采集通道，用于将散射光信号依次经透镜和分束器分开记录在不同光电探测器上，得到散射光强度‑时间图像；散射光信号处理系统，通过对散射光强度‑时间图像进行模式识别和反演，获得颗粒的粒径。该装置基于光散射原理，可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量，测量结果准确及时。
基本信息
专利标题 ：
一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120632869.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-03-29
授权号 ：
CN216284812U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
浦世亮吴学成毛慧吴迎春陈玲红王凌珑岑可法
申请人 ：
杭州海康威视数字技术股份有限公司;浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区阡陌路555号
代理机构 ：
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
白静兰
优先权 ：
CN202120632869.3
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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