纳米颗粒度分析仪
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：纳米颗粒度分析仪。2.本外观设计产品的用途：用于检测工业产品的颗粒度，分析产品颗粒度分布的变化。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
基本信息
专利标题 ：
纳米颗粒度分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130775815.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
CN307286645S
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
刘云东许林伟周锐
申请人 ：
深圳市道途斯工业设计有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区海秀路龙光世纪大厦A座031
代理机构 ：
北京棘龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
顾川江
优先权 ：
CN202130775815.8
主分类号 ：
10-05
IPC分类号 ：
10-05
法律状态
2022-04-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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