纳米粒度电位分析仪
授权
摘要
本实用新型涉及粒子分析仪技术领域，尤其是纳米粒度电位分析仪，包括激光光源发射器，所述激光光源发射器内部固定安装有热敏电阻，其端部固定安装有冷凝器，所述激光光源发射器发射激光光束透过凸非球面透镜进入到盛装件内部，该激光光束通过所述盛装件折射到第一平面反射镜表面，所述第一平面反射镜将激光光束反射至第二平面反射镜，所述第二平面反射镜将激光光束发射至聚焦透镜，该激光光束透过所述聚焦透镜进入到探测器，该分析仪使用效果好，值得推广。
基本信息
专利标题 ：
纳米粒度电位分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021064748.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-10
授权号 ：
CN212748638U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
叶明立
申请人 ：
浙江敬义科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市转塘科技经济区块16号6幢452室
代理机构 ：
杭州以美启真知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
段晓旭
优先权 ：
CN202021064748.5
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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