高精度激光粒度分析仪
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种利用激光散射测量微粒直径的高精度激光粒度分析仪,包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵、电磁阀、以及位于样品窗的一侧的10-70个辅助探测器,样品窗固定在傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上,其特别之处在于:所述的扩束镜与傅立叶变换透镜通过一密封的外壳固定在一起,使光路系统稳定性更好。本实用新型的有益效果是,一是增加了光路的稳定性,使用方便。二是避免了外部光线进入,提高了测量的准确性。三是安装方便,避免了安装或调节误差。四是扩大了测量范围,提高了测量精度。

基本信息
专利标题 :
高精度激光粒度分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720019430.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-03-15
授权号 :
CN201016915Y
授权日 :
2008-02-06
发明人 :
刘文宾
申请人 :
刘文宾
申请人地址 :
250100山东省济南市历下区华龙路西首1号嘉恒大厦B座703室润之科技公司
代理机构 :
济南泉城专利商标事务所
代理人 :
李桂存
优先权 :
CN200720019430.3
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01N21/47  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2012-05-23 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101248742256
IPC(主分类) : G01N 15/02
专利号 : ZL2007200194303
申请日 : 20070315
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20110315
2008-02-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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