一种高精度激光纳米粒度仪
公开
摘要
本发明公开了一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机、第一数据采集模块、第一光电二极管、第一光纤、第一接线端子、安装板、凸透镜、样品室和激光源，安装板设置在凸透镜的一侧，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源隔样品室与凸透镜相对设置，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；第一接线端子设置在安装板的端部；通过设置步进电机、扇叶和凹透镜，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上时，能够放大散射光，经过计算机的计算得出样品室中的颗粒值。当步进电机旋转，凸透镜偏离第一接线端子时，即可恢复正常的测量模式。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度激光纳米粒度仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371107A
申请号 ：
CN202210053043.0
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘焱何永强
申请人 ：
苏州博飞克分析技术服务有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区东长路88号F1幢1F101室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210053043.0
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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