双光束激光粒度仪
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种双光束激光粒度仪,属于激光仪器,其结构包括氦氖激光器、电动光阑、扩束镜和傅立叶透镜,氦氖激光器后依次设置有电动光阑、扩束镜和傅立叶透镜,反射镜一设置在傅立叶透镜的后侧,反射镜二设置在光学导轨中与反射镜一相对应,光学导轨中设置有与反射镜二相对应的样品池,样品池与反射镜二之间设置有垂直光学导轨的半导体激光器,半导体激光器的前方设置有反射镜三,反射镜三与样品池相对应,光学导轨的顶部设置有探测器组,光学导轨的端部设置有阵列光电探测器。本实用新型的双光束激光粒度仪和现有技术相比,可测试的最大散射角为175度,因而可以大大提高激光粒度仪的分析精度。
基本信息
专利标题 :
双光束激光粒度仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720025702.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-27
授权号 :
CN201060153Y
授权日 :
2008-05-14
发明人 :
任中京邱立志
申请人 :
任中京
申请人地址 :
250100山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
代理机构 :
济南信达专利事务所有限公司
代理人 :
姜明
优先权 :
CN200720025702.0
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02 G01N21/17
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2017-08-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101743570163
IPC(主分类) : G01N 15/02
专利号 : ZL2007200257020
申请日 : 20070727
授权公告日 : 20080514
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101743570163
IPC(主分类) : G01N 15/02
专利号 : ZL2007200257020
申请日 : 20070727
授权公告日 : 20080514
终止日期 : 无
2010-09-15 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101007710913
IPC(主分类) : G01N 15/02
专利号 : ZL2007200257020
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 任中京
变更后权利人 : 济南微纳颗粒仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 250100 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
变更后权利人 : 250100 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东2单元
登记生效日 : 20100809
号牌文件序号 : 101007710913
IPC(主分类) : G01N 15/02
专利号 : ZL2007200257020
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 任中京
变更后权利人 : 济南微纳颗粒仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 250100 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元
变更后权利人 : 250100 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东2单元
登记生效日 : 20100809
2010-01-06 :
专利实施许可合同的备案
合同备案号 : 2009370000156
让与人 : 任中京
受让人 : 济南微纳颗粒技术有限公司
发明名称 : 双光束激光粒度仪
申请日 : 20070727
授权公告日 : 20080514
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 2009.7.13
合同履行期限 : 2008.10.16至2017.7.27合同变更
让与人 : 任中京
受让人 : 济南微纳颗粒技术有限公司
发明名称 : 双光束激光粒度仪
申请日 : 20070727
授权公告日 : 20080514
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 2009.7.13
合同履行期限 : 2008.10.16至2017.7.27合同变更
2008-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201060153Y.PDF
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