粒度分析仪及系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种粒度分析仪及系统，粒度分析仪包括：主机、进样器及进样控制器。主机用于测量样品粒径及样品的遮光比。进样器与主机的测试窗口连接，用于向主机中运送样品。进样控制器分别与主机及所述进样器电性连接，用于接收主机反馈回来的样品的遮光比，并根据遮光比控制进样器的工作强度。根据上述技术方案的粒度分析仪，以测得的样品的采样遮光比作为反馈值反馈给进样控制器，并根据采样遮光比与设定遮光比之间的差值来对进样器的工作强度进行实时调整，使进样器的进样更加稳定，且可以响应外部环境的变化。
基本信息
专利标题 ：
粒度分析仪及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020410778.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-26
授权号 ：
CN212159469U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
黄永良
申请人 ：
珠海欧美克仪器有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区唐家湾镇科技三路33号
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈慧华
优先权 ：
CN202020410778.0
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N35/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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