一种硅粉激光粒度分析仪
授权
摘要

本实用新型涉及粒度分析仪技术领域,公开了一种硅粉激光粒度分析仪,包括依次连通的第一导管和第二导管,第一导管内设有激光产生器和聚焦镜,且激光产生器与第一导管的左端固定连接设置,聚焦镜的顶部与底部均固定连接有垫块,第一导管的侧壁开设有条形孔,其中一个垫块的顶部固定连接有滑块,第一导管的外壁开设有与滑块相匹配的调节机构,第二导管的上下两端内设有挡光板,且两个挡光板相背离一侧的侧壁均固定连接有转轴,转轴的两端分别与第二导管的两侧内壁转动连接。本实用新型能够对激光照射光束的直径和角度进行调节,从而适应不同情况下进行使用,提高了其适用范围。

基本信息
专利标题 :
一种硅粉激光粒度分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020368545.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-20
授权号 :
CN211740978U
授权日 :
2020-10-23
发明人 :
朱广彬
申请人 :
徐州凌云硅业股份有限公司
申请人地址 :
江苏省徐州市沛县张寨镇王集村东首
代理机构 :
南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
伍兵
优先权 :
CN202020368545.9
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2020-10-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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