成像式曲面波片延迟量测量系统
授权
摘要
本实用新型提供一种成像式曲面波片延迟量测量系统，包括激光器，其安装在波片架底端，用于向待测波片发出准直光源；待测波片，其安装在波片架上，波片架顶端安装有整形装置；偏振测量仪，其位于整形装置正上方，所述波片架顶端直径小于底端直径，波片架内对称安装有支架，待测波片位于支架上，通过计算机的光线追迹算法配合待测波片顶端的整形装置测量整个曲面上的真实相位延迟量。
基本信息
专利标题 ：
成像式曲面波片延迟量测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123216897.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
CN216524713U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
冯婧葛士军
申请人 ：
南京晶萃光学科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区天骄路100号江苏南京侨梦苑B栋12楼1218室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123216897.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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